产品[
View-XX-Ray高解析度无损探伤仪
]资料
如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称:
View-XX-Ray高解析度无损探伤仪
产品型号:
产品厂商:
其他品牌
简单介绍
View-XX-Ray高解析度无损探伤仪
View-XX-Ray高解析度无损探伤仪的详细介绍
View X高解析度X光无损探伤仪主要使用于BGA、CSP、flip chip、半导内部以及多层电路板的质量检测，并能快捷清晰地检测电路板的焊接情况，特别适用生产过程的质量检测和返修后的质量检测。
View X为X光机系列中的一组或称为手动型探伤仪，它包括一个基于Windows系统平台的工作台（View X -1000），并配有图像多样采集功能，能够做到图像同步采集与分析。View X光机完全体现了Scienscope设计中的集使用简便、图像清晰、价格合理的**理念。
1、*高可达130千伏，5微米聚焦的X光管能产生125倍的几何放大率，再加上电脑放大可以达到1000倍的放大率。
2、观察范围可从1.5毫米至50毫米。
3、采用激光笔辅助样品定位。
4、X光管的Z轴可动控制（FOV和放大率控制）。
5、X光管探测器的Z轴可动控制（FOV和放大率控制）。
6、载物台可作±60°倾斜。
型号
经济型E80/100/130
豪华型L80/100/130
光管
光管类型
封闭管 / Sealed tube
光管电压
80kV、100KV、130KV
光管电流
0.15mA
光管聚焦尺寸
4.5-7um
冷却方式
风冷 / air cooling
几何放大倍率
125X
载物台
X轴
400mm
450mm
Y轴
400mm
400mm
Z轴
270mm
340mm
旋转
±60°
增强屏
视场
4/2 inch
解析度
75 lp/cm
X-Ray外壳
尺寸
1450*1400*1750mm
1635*1240*2180mm
重量
约770 kg
约650 kg
电源
供电方式
AC110-230VAC, 50/60Hz
计算机
品牌
3DFAMILY
操作系统
Windows?XP
显示器
17”CRT / LCD
CPU
Intel Pentium IV
工作环境
温度
0-40℃
辐射**标准
美国FDA**辐射标准
保修期
一年保修
- 温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买前务必确认供应商资质与产品质量。
- 免责申明：以上内容为注册会员自行发布，若信息的真实性、合法性存在争议，平台将会监督协助处理，欢迎举报
View-XX-Ray高解析度无损探伤仪
的相关产品